Chování reálné izolace při měření střídavým nebo stejnosměrným napětím lze vyjádřit zjednodušeným náhradním schématem podle Debaye (pravá část obrázku),
kde odpor R1 vyjadřuje svodový odpor, kapacita C1 geometrickou kapacitu (ideální bezztrátová kapacita) a sériová kombinace R2C2 (τ2) popisuje polarizační jevy. Praktickým problémem je stanovení prvků, protože není možné v reálném dielektriku jejich přímé měření, neboť se obvykle změří Rx a Cx celku.Při měření izolačního odporu (měřící přístroj je znázorněn v levé části obrázku) lze početním postupem stanovit prvky R1, R2 a C2 a tedy i časovou konstantu sériové kombinace τ2, za předpokladu, že vnitřní odpor měřícího přístroje je dostatečně nízký (RCx << RxCx), aby jej bylo možné zanedbat. To je splněno u většiny současných přístrojů renomovaných výrobců.Pro nejčastěji používané měření izolačního odporu, odečítaného po jedné minutě (R60) je jenom nutné odečítat i hodnoty v časech 15, 30, 45 a 60 sec. Hledané hodnoty při měřícím napětí 2,5 kV je možné získat dosazením do níže uvedené tabulky:
Příklad
Zadání
| R15: | 225,4 MΩ |
| R30: | 297,5 MΩ |
| R45: | 381,2 MΩ |
| R60: | 472,7 MΩ |
Řešení
| R1: | 1000 MΩ |
| R2: | 200 MΩ |
| C2: | 199900 pF |
| τR2C2: | 39,99 s |
Upozornění
Metoda vyžaduje zadání alespoň tří platných míst vstupních hodnot a přesnost odečtu měřených hodnot by měla být v řádu % nebo lepší.
Pozn.: Čím menší je R2C2, tím více se křivka blíží přímce.
Vypočtené veličiny nepřímo využívají metody C2/C50, dC, metody založené na principu měření zotaveného napětí, vybíjecího napětí apod. Tyto metody nejčastěji indikuji navlhnutí, nebo znečištění izolačního sytému.
